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關于成像光譜技術對蘋果斑點及損傷快速識別研究
發(fā)布時間:2017/8/17瀏覽:3100次

 取蘋果黑斑區(qū)域、損傷區(qū)域、正常區(qū)域和背景各3個不同位置周邊50個像元,分別獲取這3個不同位置50個像元的光譜反射率,并求取這50個像元的反射率均值,如圖所示,其中,蘋果沒有損傷區(qū)域的光譜反射率在500-680 nm范圍內高于損傷區(qū)域及黑斑區(qū)域的光譜反射率;在550-700nm范圍內,蘋果黑斑區(qū)域的光譜反射率較低;在580-700 nm范圍內,蘋果黑斑區(qū)域、損傷區(qū)域、正常區(qū)域的光譜存在較為顯著的波峰波谷,而背景無顯著特征。在550-680 nm范圍內,損傷區(qū)域的光譜反射率鑒于蘋果黑斑區(qū)域和正常區(qū)域之間,因此可以嘗試通過構建植被指數和閾值分割方法快速識別出蘋果黑斑區(qū)域和損傷區(qū)域。

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